Lambda-X NIMO是专为光学镜片开发的功能强大的专用面型测量分析仪器，利用其独有的核心计算方法，经过第二代的创新和设计，可测量现阶段最先进的近视防控镜片：阵列透镜（微透镜）离焦近视防控镜片。

Lambda-X Nimo可测量和观测：

· 可测量微透镜的环装带区域平均度数。

· 可测量中间非微透镜区域平均度数以及区域大小

· 可测量单个透镜的中间度数和周围临近透镜的度数变化

· 可对有效直线区域的多个阵列透镜进行系统分析，其透镜中心和边缘的度数变化

· 可分析中心区域度数与微透镜中心度数的离焦量差值。

Lambda-X Nimo的产品优势：

· 现阶段唯一 一台可真实测量1mm微透镜的光学面型分析仪。

· 可系统的对单个透镜进行光学测量，其SPH,CYL,AXIS等数据。

· 可自由设定环装带直径大小，用于分析各种类型的微透镜光学设计。

· 现阶段已经广泛被应用于国内外检测机构，学术机构以及镜片生产企业。

主机参数：

· 测量区域：最大18mm*18mm  最小0.5mm*0.5mm

· 测量范围：+/- 30D

· 测量精度：0.001D/0.01D/0.06D/0.12D

· 输入：220VAC 2A

测量软件参数：Lambda-X专用光学分析软件

不同类型的微透镜设计：

整个镜片中心区域度数分析：

单个微透镜测量分析：